Los teléfonos inteligentes y los ordenadores podrían obtener un gran aumento de rendimiento, gracias a un descubrimiento accidental

Un equipo de investigadores del MIT que buscaba una forma de mejorar la seguridad y la durabilidad de los reactores nucleares ha descubierto accidentalmente una nueva técnica que podría aumentar el rendimiento de los chips informáticos. El trabajo del equipo sólo se diseñó para estudiar cómo se corroen y agrietan los materiales en el duro entorno que se encuentra dentro de un reactor nuclear.

La investigación -publicada en la revista Scripta Materialia- implicó el uso de un potente haz de rayos X focalizado para imitar la intensa radiación presente en el interior de un reactor nuclear. Mientras realizaban experimentos con níquel -un componente de aleación común en los reactores nucleares avanzados- los investigadores hicieron un hallazgo inesperado. Descubrieron que también podían utilizar el haz de rayos X para "afinar" con precisión la tensión en la estructura cristalina del material.

Esto podría tener un gran impacto en el desarrollo de la microelectrónica. Los ingenieros que trabajan en el sector de la fabricación de semiconductores emplean la ingeniería de deformación, una técnica utilizada para introducir y modificar la deformación en los materiales con el fin de mejorar su rendimiento óptico y eléctrico. Este nuevo descubrimiento proporciona una novedosa técnica de ingeniería de la deformación.

Con nuestra técnica, los ingenieros pueden utilizar rayos X para ajustar la deformación en la microelectrónica mientras la fabrican. Aunque éste no era nuestro objetivo con estos experimentos, es como obtener dos resultados por el precio de uno. - Ericmoore Jossou, autor principal de un estudio.

La investigación también tuvo éxito en lo que respecta a su objetivo original. El equipo desarrolló con éxito un método para la monitorización 3D en tiempo real del fallo de materiales en un entorno de reactor nuclear simulado. El equipo también descubrió que la exposición prolongada a los rayos X relajaba la tensión interna del material, lo que permitía una reconstrucción 3D precisa del cristal a medida que se sometía a tensión. Una hazaña que, según Jossou, nadie había logrado antes.